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Enova 2013, 4 en 1 à Paris

Le salon qui se déroulera du 8 au 10 octobre
réunira les mondes de l’électronique et des systèmes embarqués, de la mesure,
de l’optique et des hyperfréquences.

 

C’est la
dernière ligne droite pour Enova Paris 2013, réunion, sur un même lieu, du
Carrefour de l’électronique (électronique et systèmes embarqués),
MesurexpoVision, Opto (optique et photonique) et RF&Hyper. L’événement se
déroulera du 8 au 10 octobre prochain à la porte de Versailles, à Paris. En
tout, ce ne sont pas moins de 400 exposants qui se tiendront prêts pour
accueillir les 8000 visiteurs attendus.

 

Le plein d’animations

Outre
l’exposition en elle-même, Enova a prévu quantité d’animations spécifiques. Au
programme de l’édition 2013, les Ateliers du Test (Simtec), composés d’un
espace d’animation et de conférences sur les thèmes : « test en production, «
test en réparation », « test FPGA » et « maintenance et métrologie », et
l’espace Systèmes Embarqués (Cap’Tronic), qui accueillera des PME et TPE du
domaine de l’embarqué, des centres de compétences privés, publics et des
grandes entreprises. A noter, les conférences des « Matinales de l’embarqué »
traiteront du « Logiciel embarqué et M2M sous un angle juridique », de la mise
en œuvre « de Microsoft Embedded et développement d’IHM » et « d’OS Linux et
Android et leurs contraintes respectives ». L’espace Systèmes communicants
(IETR et LCIE BUREAU VERITAS) sera, pour sa part, dédié aux systèmes
communicants et regroupera des laboratoires français de renom et des PME-PMI
innovantes du secteur des télécommunications. Des conférences renforceront ces
thématiques présentées sur « Les antennes miniatures », « Le bâtiment
intelligent », « CEM : dernières évolutions réglementaires et normatifs » et « L’impact
sur l’environnement électromagnétique ». L’espace emploi et formation
(Opticsvalley) mettra en relation les entreprises et les candidats. Enfin, les
conférences liées à la campagne « Productivez ! » du Symop traiteront
de la mesure et du contrôle avec, par exemple, la métrologie 3D, les capteurs
intelligents & 3D, l’imagerie pour le CND, la mesure sans contact &
dynamique et les machines optiques multisensors, et le contrôle non destructif
sera à l’honneur au travers de la conférence «CND : Les avancées actuelles »
(Université de Reims Champagne, Reims).

 

Deux congrès et des trophées

A noter,
Enova Paris abritera également cette année le seizième congrès international de
métrologie (du 7 au 10 octobre, un millier de participants sont attendus),
carrefour d’échanges entre industriels et scientifiques, et la deuxième édition
du congrès francophone des applications des fibres optiques (du 8 au 10), qui
permettra aux participants de partager leurs pratiques, savoir-faire ou retours
d’expériences dans les différents domaines de mises en œuvre des FO…

Enfin,
l’événement s’accompagnera cette année d’une pluie de trophées avec les
Trophées de l’Innovation, qui accueillent cette année une nouvelle catégorie «
Technologie embarquée » récompensant les outils et composants (matériels, logiciels)
les plus innovants pour le développement de solutions et systèmes embarqués,
les Trophées Cap’Tronic ou encore le Prix Yves Rocard…

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