Avec plus de 25 000 lecteurs de wafers installés dans le monde, Cognex a noté que les fabricants de semi-conducteurs s’orientent aujourd’hui vers une traçabilité entièrement automatisée des wafers. » Une traçabilité devenue plus complexe, car les nouveaux processus et matériaux utilisés pour les semi-conducteurs rendent l’identification des tranches de silicium de plus en plus délicate, » précise Thierry Wailly, Directeur Marketing Cognex Europe.
Dans un boîtier autonome équipé d’un capteur CMOS 752 x 480, convenant aussi bien aux nouvelles installations qu’aux mises à niveau, l’In-Sight 1720 offre des fonctions de reconnaissance optique (OCR) et de lecture des codes à barres.
Il complète la gamme de lecteurs de wafers qui comprend également :
· L’In-Sight 1721, qui intègre un capteur CCD 1024 x 768 haute résolution spécifiquement conçu pour les tranches 300 mm avec des codes T7 Data Matrix ;
· L’In-Sight 1722, qui comprend un éclairage infrarouge (brevet en instance) pour les nouveaux revêtements de wafer ultra-fins d’oxyde, de nitrure et de polyimide.
Dans un boîtier autonome équipé d’un capteur CMOS 752 x 480, convenant aussi bien aux nouvelles installations qu’aux mises à niveau, l’In-Sight 1720 offre des fonctions de reconnaissance optique (OCR) et de lecture des codes à barres.
Il complète la gamme de lecteurs de wafers qui comprend également :
· L’In-Sight 1721, qui intègre un capteur CCD 1024 x 768 haute résolution spécifiquement conçu pour les tranches 300 mm avec des codes T7 Data Matrix ;
· L’In-Sight 1722, qui comprend un éclairage infrarouge (brevet en instance) pour les nouveaux revêtements de wafer ultra-fins d’oxyde, de nitrure et de polyimide.
